NITTOSEIKO日東精工 低電阻率自動(dòng)測量?jì)x

NITTOSEIKO日東精工 低電阻率自動(dòng)測量?jì)x MCP-S330

NITTOSEIKO日東精工 低電阻率自動(dòng)測量?jì)x MCP-S330

特征

導電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。

能夠繪制最大300mm見(jiàn)方的樣品并連續測量多個(gè)樣品。

可連接到 Loresta GX 以測量 10-4 至 10+7Ω 范圍

全自動(dòng)測量、計算、數據處理和3D圖形輸出

要測量粉末的體積電阻率，只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設備中即可。

該裝置施加給定的壓力，同時(shí)測量粉末的電阻率和壓制密度。

該方法使得從新的角度分析粉末的特性成為可能。該設備可用于電子元件和材料的開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制。

測量目標

金屬材料如金屬粉末、金屬氧化物、陶瓷等；碳材料如活性炭、炭黑、碳納米管、石墨、石墨烯等。

二次電池電極、電容器、EV電機、線(xiàn)圈等電子部件材料

ITO粉體等薄膜原材料、導電漿料等電路板材料

墨粉相關(guān)的磁性材料，例如鐵氧體

型號

MCP-T380

MCP-T710

MCP-PD600

ASR 探頭RMH501

ESR 探頭RMH502

LSR 探頭RMH503

PSR 探頭RMH504

BSR 探頭RMH506

AR 探頭RMH508

BR 探頭RMH509

探頭檢查器RMH304

探頭檢查器RMH311

探頭檢查器RMH335

用途

Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量?jì)x器，電阻率是材料的評估標準之一。

隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，在研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域，越來(lái)越需要能夠輕松、快速、日益嚴格、高精度地管理材料。

其中，電阻率（表面、體積、電導率）是表示材料狀態(tài)和性能的指標。

Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數輕松準確地測量電阻率的設備。

該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法，可以使用各種探頭測量導電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。

與傳統的4端子法不同，無(wú)需為測量對象準備電極，使用本公司提供的各種4點(diǎn)探頭即可一鍵測量電阻率。

主要測量目標

導電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導電橡膠、

導電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。

特征

可以隨時(shí)隨地以高精度測量低電阻區域的表面電阻率、體積電阻率（比電阻）和電導率。

與Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，測量范圍從 10 -4擴大至 10 7 Ω

通過(guò)改變電流方向即可測量硅片

恒定電流可變功能（可使用微小電流進(jìn)行樣品測量）

可輸出2000個(gè)測量結果至USB存儲器

通過(guò)觸摸屏提高操作性